CLASSIFICATION OF ELECTRO-OPTICAL COORDINATE MEASURING SYSTEMS
Keywords:
оптико-електронна система, координати, вимірювальна система, класифікаціяAbstract
The analysis of existing electro-optical coordinate measuring systems was conducted and their classification is suggested.References
1. Нейманн Р. И. Технология мультисенсорных координатных измерений / Ральф Кристоф Ханс Иоахим Нейманн,
изд. 2, Германия. — 2004 г. — 148 с.
2. Кондратов В. Т. Визуализация в метрологи: уровни, направления, цели, задачи, методы и программное обеспечение /
В. Т. Кондратов // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2001. — № 1. — С. 7—22.
3. Богданкевич О. В. Линейные измерения в субмикронном диапазоне / О. В. Богданкевич, В. В. Календин, Ю. А. Ку-
деяров, Л. Н. Невзорова // Метрологическая служба в СССР. — 1987. — Вып. 3. — С. 31—35.
4. Дюков В. Г. Растровая оптическая микроскопия / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. — М. : Наука. — 1992. — 208 с.
5. Білинський Й. Й. Класифікація методів вимірювань розмірів мікроскопічних об’єктів / Й. Й. Білинський, І. В. Ми-
кулка, Б. П. Книш // Вісник Хмельницького національного університету. — 2011. — № 5. — С. 132—135.
6. Аппельт Г. Введение в методы микроскопического исследования / Г. Аппельт. — М. : Медгиз, 1959. — 425 с. —
ISBN: 978-5-458-53348-5.
7. Лашманов О. Ю. Исследование и разработка методов автоматической фокусировки реального масштаба времени
для систем технического зрения / О. Ю Лашманов, А. В. Краснящих // Труды оптического общества им. Д. С. Рождест-
венского. — 2011. — С. 262—266.
8. Hamashima N. Optical measurements of half micron critical dimentions / N. Hamashima, К. Kato, T. Ishizeki. — Ibid. —
P. 92—99.
9. Зуйков А. А. Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютер-
ной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения : автореф. дис. на соискание науч. степени канд. техн. наук
спец. : 05.11.16. / А. А. Зуйков. — М., 2013 г. — 22 с.
10. Білинський Й. Й. Методи обробки зображення в комп’ютеризованих оптико-електронних системах: моногр. /
Й. Й. Білинський. — Вінниця : ВНТУ, 2010 р. — 272 с. — ISBN 978-966-641-366-9.
11. Deriche R. Using Canny’s criteria to Derive a Recursively implemented optimal edge detection // Int. J. Comput. Vis. —
1998. — No 7(12). — P. 5—12.
изд. 2, Германия. — 2004 г. — 148 с.
2. Кондратов В. Т. Визуализация в метрологи: уровни, направления, цели, задачи, методы и программное обеспечение /
В. Т. Кондратов // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2001. — № 1. — С. 7—22.
3. Богданкевич О. В. Линейные измерения в субмикронном диапазоне / О. В. Богданкевич, В. В. Календин, Ю. А. Ку-
деяров, Л. Н. Невзорова // Метрологическая служба в СССР. — 1987. — Вып. 3. — С. 31—35.
4. Дюков В. Г. Растровая оптическая микроскопия / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. — М. : Наука. — 1992. — 208 с.
5. Білинський Й. Й. Класифікація методів вимірювань розмірів мікроскопічних об’єктів / Й. Й. Білинський, І. В. Ми-
кулка, Б. П. Книш // Вісник Хмельницького національного університету. — 2011. — № 5. — С. 132—135.
6. Аппельт Г. Введение в методы микроскопического исследования / Г. Аппельт. — М. : Медгиз, 1959. — 425 с. —
ISBN: 978-5-458-53348-5.
7. Лашманов О. Ю. Исследование и разработка методов автоматической фокусировки реального масштаба времени
для систем технического зрения / О. Ю Лашманов, А. В. Краснящих // Труды оптического общества им. Д. С. Рождест-
венского. — 2011. — С. 262—266.
8. Hamashima N. Optical measurements of half micron critical dimentions / N. Hamashima, К. Kato, T. Ishizeki. — Ibid. —
P. 92—99.
9. Зуйков А. А. Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютер-
ной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения : автореф. дис. на соискание науч. степени канд. техн. наук
спец. : 05.11.16. / А. А. Зуйков. — М., 2013 г. — 22 с.
10. Білинський Й. Й. Методи обробки зображення в комп’ютеризованих оптико-електронних системах: моногр. /
Й. Й. Білинський. — Вінниця : ВНТУ, 2010 р. — 272 с. — ISBN 978-966-641-366-9.
11. Deriche R. Using Canny’s criteria to Derive a Recursively implemented optimal edge detection // Int. J. Comput. Vis. —
1998. — No 7(12). — P. 5—12.
Downloads
-
PDF (Українська)
Downloads: 42
Abstract views: 199
How to Cite
[1]
Y. Y. Bilynskyi, M. Y. Yukysh, and I. V. Sukhotska, “CLASSIFICATION OF ELECTRO-OPTICAL COORDINATE MEASURING SYSTEMS”, Вісник ВПІ, no. 3, pp. 15–20, Jun. 2014.
Issue
Section
Automation and information-measuring equipment
License
Authors who publish with this journal agree to the following terms:
- Authors retain copyright and grant the journal right of first publication.
- Authors are able to enter into separate, additional contractual arrangements for the non-exclusive distribution of the journal's published version of the work (e.g., post it to an institutional repository or publish it in a book), with an acknowledgment of its initial publication in this journal.
- Authors are permitted and encouraged to post their work online (e.g., in institutional repositories or on their website) prior to and during the submission process, as it can lead to productive exchanges, as well as earlier and greater citation of published work (See The Effect of Open Access).
