МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ
Ключові слова:
метод порівняння, вимірювання, низькочастотний шум, виріб електронної технікиАнотація
Запропоновано новий метод прогнозування виробів електронної техніки за рівнем НЧ шумів. Особливістю цього методу є використання двох каналів для вимірювання рівня шумів, що дозволяє значно зменшити рівень систематичної похибки, виключити вплив температурних характеристик і електромагнітних завад. Показано перетворювальні характеристики пристрою, структурну схему і алгоритм роботи.Посилання
1. Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах; Пер. с англ. / Под. ред. В. Н. Губанкова. — М. : Мир, 1986. — 400 c.
2. Пряников В. С. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов / В. С. Пряников — М.: Энергия, 1978. — 112 c.
3. Кичак В. М. Оцінка якості інтегральних транзисторів за допомогою низькочастотних шумів / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський, В. В. Стронський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2005. — № 2. — С. 177—181.
4. Кичак В. М. Математична шумова модель інтегральних операційних підсилювачів для прогнозування надійності за рівнем низькочастотного шуму / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський // Вісник Вінницького політехнічного інституту. — 2008. — № 3. — С. 102—108.
5. Горлов М. И. Разделение интегральных схем по надежности с использованием 1/f-шума / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Д. Л. Ануфриев // Известия вузов. Электроника. — 2006. — № 1. — С. 84—89.
6. Горлов М. И. Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, Д. Ю. Смирнов // Компоненты и технологии. — 2005. — № 8. — С. 198 — 201.
7. Методы диагностики полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов / Горлов М. И., Емельянов В. А., Рубцевич И. И., Смирнов Д. Ю. // Микроэлектроника. — 2005. — Т. 34. — № 3. —
С. 27—36.
8. Использование уровня шумов для контроля полупроводниковых изделий при термоциклировании / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Ю. Е. Сегал, А. В. Емельянов // Известия вузов. Электроника. — 2005. — № 6. — С. 89—92.
9. Kester W., Bryant J. Programmable Gain Amplifiers. Op Amp Applications. — Copyright © 2002 By Analog Devices Inc. — ISBN 0-916550-26-5.
10. Красносельский М. А. Системы с гистерезисом / М. А. Красносельский, А. В. Покровский. — М. : Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1983. — 272 с.
2. Пряников В. С. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов / В. С. Пряников — М.: Энергия, 1978. — 112 c.
3. Кичак В. М. Оцінка якості інтегральних транзисторів за допомогою низькочастотних шумів / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський, В. В. Стронський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2005. — № 2. — С. 177—181.
4. Кичак В. М. Математична шумова модель інтегральних операційних підсилювачів для прогнозування надійності за рівнем низькочастотного шуму / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський // Вісник Вінницького політехнічного інституту. — 2008. — № 3. — С. 102—108.
5. Горлов М. И. Разделение интегральных схем по надежности с использованием 1/f-шума / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Д. Л. Ануфриев // Известия вузов. Электроника. — 2006. — № 1. — С. 84—89.
6. Горлов М. И. Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, Д. Ю. Смирнов // Компоненты и технологии. — 2005. — № 8. — С. 198 — 201.
7. Методы диагностики полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов / Горлов М. И., Емельянов В. А., Рубцевич И. И., Смирнов Д. Ю. // Микроэлектроника. — 2005. — Т. 34. — № 3. —
С. 27—36.
8. Использование уровня шумов для контроля полупроводниковых изделий при термоциклировании / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Ю. Е. Сегал, А. В. Емельянов // Известия вузов. Электроника. — 2005. — № 6. — С. 89—92.
9. Kester W., Bryant J. Programmable Gain Amplifiers. Op Amp Applications. — Copyright © 2002 By Analog Devices Inc. — ISBN 0-916550-26-5.
10. Красносельский М. А. Системы с гистерезисом / М. А. Красносельский, А. В. Покровский. — М. : Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1983. — 272 с.
##submission.downloads##
-
PDF
Завантажень: 38
Переглядів анотації: 154
Опубліковано
2010-11-12
Як цитувати
[1]
В. М. Кичак і Д. В. Михалевський, «МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ», Вісник ВПІ, вип. 5, с. 141–146, Листоп. 2010.
Номер
Розділ
Радіоелектроніка та радіоелектронне апаратобудування
Ліцензія
Автори, які публікуються у цьому журналі, згодні з такими умовами:
- Автори зберігають авторське право і надають журналу право першої публікації.
- Автори можуть укладати окремі, додаткові договірні угоди з неексклюзивного поширення опублікованої журналом версії статті (наприклад, розмістити її в інститутському репозиторії або опублікувати її в книзі), з визнанням її первісної публікації в цьому журналі.
- Авторам дозволяється і рекомендується розміщувати їхню роботу в Інтернеті (наприклад, в інституційних сховищах або на їхньому сайті) до і під час процесу подачі, оскільки це сприяє продуктивним обмінам, а також швидшому і ширшому цитуванню опублікованих робіт (див. вплив відкритого доступу).
